
塑封材料在電子元器件保護中扮演著重要角色,其主要功能是隔絕外界環境對內部敏感結構的侵蝕。然而,塑封材料在儲存或使用過程中可能因吸濕導致性能下降,甚至引發失效。本文圍繞塑封材料吸濕失效的機理、影響因素及改善措施進行分析。
一、吸濕機理及失效形式
塑封材料通常為高分子聚合物,其分子結構具有一定的極性,容易吸附環境中的水分子。水分子通過擴散作用進入材料內部,并可能積聚于材料缺陷處或界面區域。吸濕后材料的失效形式主要包括以下幾類:
1、材料膨脹:吸水后聚合物分子鏈間距增大,導致整體尺寸變化,產生內應力。
2、界面分層:水分在塑封料與芯片、引線框架等界面處聚集,降低粘接強度,導致分層現象。
3、金屬腐蝕:侵入的水分與污染物結合形成電解液,加速內部金屬部件的電化學腐蝕。
4、性能劣化:吸水可能導致材料介電常數變化、絕緣性能下降,影響器件電氣特性。
二、影響吸濕的主要因素
1、材料性質:不同樹脂體系(如環氧樹脂、硅酮等)的吸濕率存在差異。極性較強的材料通常更易吸濕。
2、環境條件:高溫高濕環境顯著加速吸濕過程。例如在濕度較高的地區,塑封器件儲存時需格外注意。
3、封裝工藝:塑封過程中的固化程度、界面處理工藝等會影響材料致密性和界面結合力,從而影響吸濕速率和耐濕性。

4、結構設計:塑封體厚度、內部結構復雜度及界面形態等因素也會影響水汽擴散路徑和聚集區域。
三、吸濕失效的分析方法
為準確判斷吸濕是否導致失效,需通過以下方法進行綜合分析:
1、重量法:通過測量樣品在恒溫恒濕環境下的重量變化,計算吸濕率和擴散系數。
2、熱分析:采用熱重分析(TGA)或差示掃描量熱法(DSC)觀察材料在加熱過程中的水分揮發及玻璃化轉變溫度變化。
3、形貌觀察:利用掃描電子顯微鏡(SEM)或超聲掃描(C-SAM)檢查界面分層、裂紋等缺陷。
4、電氣測試:測量絕緣電阻、介質耐壓等參數,評估吸濕對電氣性能的影響。

四、改善吸濕可靠性的措施
1、材料選型:選擇低吸濕率、高粘結強度的塑封材料,例如部分改性環氧樹脂或復合體系。

2工藝控制:優化固化工藝,提高材料交聯密度;加強界面清潔和處理,改善結合質量。
3、結構設計:避免尖銳棱角,減少應力集中區域;合理設計厚度和排氣結構,降低水汽侵入概率。
4、存儲與使用環境:嚴格控制倉儲濕度條件,建議在干燥環境中存儲和操作;對于敏感器件,可采用防潮包裝并標注開封后的使用時限。
五、案例說明
某類型集成電路在客戶端發現批量失效,經分析發現塑封體與引線框架界面存在明顯分層。進一步實驗表明,該批次器件在生產后倉儲環境中濕度較高,且材料本身粘結性能不足,導致吸濕后界面強度顯著下降。通過更換塑封料型號并改善存儲條件,后續產品未再出現同類問題。
塑封材料吸濕失效是一個涉及材料、工藝、環境等多方面的復雜問題。通過合理選材、優化工藝及控制環境條件,可有效提高器件的耐濕性能和長期可靠性。